Contribution à la caractérisation de composants diffractifs réalisés sur des matériaux de type polypeptide : application aux mémoires diffractives
Langue Français
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Auteur : Elouad, Lhassan
Date de soutenance : 01-01-2004

Directeur(s) de thèse : Meyrueis, Patrick

Établissement de soutenance : Université Louis Pasteur (Strasbourg)
École doctorale : École doctorale Mathématiques, sciences de l'information et de l'ingénieur (Strasbourg ; 1997-....)
 
Discipline : Électronique, microélectronique, optique et lasers, optoélectronique, micro-ondes
Classification : Physique

Mots-clés libres : couches minces , méthodes optiques , résonance des couches minces , composants diffractifs , mémoires diffractives , photopolypeptides
Mots-clés :
  • Couches minces - Thèses et écrits académiques
  • Diffraction - Thèses et écrits académiques
  • Holographie - Thèses et écrits académiques
Résumé : La caractérisation des couches minces transparentes et des composants diffractifs de phase a une grande importance scientifique et technologique. Au cours de ce travail, et à partir des contraintes posées, nous avons proposé une méthode non destructive et non complexe qui peut être utilisée à la fois pour la caractérisation des couches vierges ou des structures diffractives sur les photopolypeptides. Cette méthode de résonance des couches minces permet la mesure des paramètres optiques à partir des variations de la réflectivité en fonction de l'angle d'incidence. En améliorant son principe, en réduisant ses erreurs, et en développant les programmes d'auto-étalonnage et de mesures sous LABVIEW. Les résultats obtenus sur des étalons par cette méthode sont tous à fait en accord avec ceux qui nous ont été fourni par leurs constructeurs. Cette méthode a été utilisée également pour la caractérisation des structures diffractives de polypeptide, l'accord des résultats obtenus avec des mesures de leur efficacité de diffraction ont confirmé son utilisation.Parmi les avantages de la méthode proposée, outre sa facilité de mis en œuvre, son étendue de mesure, elle permet aussi la caractérisation des couches ayant un indice de réfraction proche de celui du substrat " comme le cas des couches de photopolypeptide après développement ", ceci aurait été très difficile par les méthodes connues : interférentielles, spectroscopiques, ou ellipsomètriques.
 
Type de contenu : Text
 
Entrepôt d'origine : Ressource locale
Identifiant : ecrin-ori-285761
Type de ressource : Thèse