Simulation multi-physiques de circuits intégrés pour la fiabilité
Langue Français
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Auteur : Garci, Maroua
Date de soutenance : 20-05-2016

Directeur(s) de thèse : Hebrard, Luc - Kammerer, Jean-Baptiste

Établissement de soutenance : Strasbourg
Laboratoire : Laboratoire des sciences de l'ingénieur, de l'informatique et de l'imagerie (Strasbourg ; 2013-....)
École doctorale : École doctorale Mathématiques, sciences de l'information et de l'ingénieur (Strasbourg ; 1997-....)
 
Discipline : Micro et nanoélectronique, optoélectronique
Classification : Sciences de l'ingénieur

Mots-clés libres : Simulation multiphysiques, Modélisation compacte, Verilog-A, Cadence, SKILL, Simulation électrothermique, Simulation thermo-mécanique, Élements finis
Mots-clés :
  • Circuits intégrés - Conception assistée par ordinateur
  • Conception technique -- Informatique
  • MOS complémentaires
  • Modélisation tridimensionnelle
  • Verilog (langage de description de matériel informatique)
Résumé : Cette thèse porte sur le thème général de la fiabilité des circuits microélectroniques. Le but de notre travail fut de développer un outil de simulation multi-physiques pour la conception des circuits intégrés fiables qui possède les caractéristiques innovatrices suivantes : • (i) L’intégration dans un environnement de conception microélectronique standard, tel que l’environnement Cadence® ; • (ii) La possibilité de simulation, sur de longues durées, du comportement des circuits CMOS analogiques en tenant compte du phénomène de vieillissement ; • (iii) La simulation de plusieurs physiques (électrique-thermique-mécanique) couplées dans ce même environnement de CAO en utilisant la méthode de simulation directe. Ce travail de thèse a été réalisé en passant par trois grandes étapes traduites par les trois parties de ce manuscrit.
 
Type de contenu : Text
Format : PDF
 
Entrepôt d'origine : STAR : dépôt national des thèses électroniques françaises
Identifiant : 2016STRAD020
Type de ressource : Thèse