Développement de la microscopie à force photo-induite dans le domaine spectrale du visible
Langue Français
Accéder au document

Ce document est protégé en vertu du Code de la Propriété Intellectuelle.

 
Auteur : Pichois, Manouel
Date de soutenance : 24-05-2022

Directeur(s) de thèse : Gallani, Jean-Louis - Rastei, Mircea-Vasile

Établissement de soutenance : Strasbourg
Laboratoire : Institut de physique et chimie des matériaux (Strasbourg)
École doctorale : École doctorale Physique et chimie-physique (Strasbourg ; 1994-....)
 
Discipline : Nanophysique
Classification : Physique

Mots-clés libres : Microscopie, AFM, PiFM, Optique, Opto-electronique, Nano-physique, Physique, Spectroscopie
Mots-clés :
  • Microscopie en champ proche
  • Microscopie à force atomique
  • Optoélectronique
Résumé : Les travaux de cette thèse sont consacrés à contribuer à un développement instrumental afin d’améliorer une technique récente de microscopie en champ proche : la microscopie à force photo-induite (PiFM). La technique consiste à détecter à l’aide d’une pointe AFM, les forces résultant des interactions dipolaires induites optiquement. Il est alors possible de cartographier, avec la résolution spatiale de l’AFM, la polarisabilité d’une surface, et donc les propriétés optiques de cette dernière. L’introduction d’un laser à longueur d’onde accordable dans le montage permet de suivre l’évolution spectrale de ces forces optiques, s’approchant d’une spectroscopie optique à l’échelle nanométrique. Le développement d’une telle technique offre ainsi des perspectives révolutionnaires en termes de caractérisations des propriétés opto-électroniques.
 
Type de contenu : Text
Format : PDF
 
Entrepôt d'origine : STAR : dépôt national des thèses électroniques françaises
Identifiant : 2022STRAE006
Type de ressource : Thèse